A coarse pixel-scale ground “truth” dataset based on global in situ site measurements to support validation and bias correction of satellite surface albedo products

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Pan, Fei / Wu, Xiaodan / Zeng, Qicheng / et al: A coarse pixel-scale ground “truth” dataset based on global in situ site measurements to support validation and bias correction of satellite surface albedo products. 2024. Copernicus Publications.

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