Snow albedo sensitivity to macroscopic surface roughness using a new ray-tracing model

Larue, Fanny; Picard, Ghislain; Arnaud, Laurent; Ollivier, Inès; Delcourt, Clément; Lamare, Maxim; Tuzet, François; Revuelto, Jesus; Dumont, Marie

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Einordnung

Erschienen in:
The Cryosphere˜Theœ Cryosphere
Bd. 14, H. 5 (05.2020), S. 1651-1672
Band:
14
Heft:
5
Erscheinungsdatum:
05.2020
DOI:
10.5194/tc-14-1651-2020
Sonstiger Identifikator (importID):
oai:publications.copernicus.org:tc78897
Sprache:
Englisch
Ressourcentyp:
Text
Verlag:
Copernicus Publications
Art der Ablieferung:
Verlagsveröffentlichung
Link zum Volltext:
https://tc.copernicus.org/articles/14/1651/2020/tc-14-1651-2020.pdf

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Zitierform:

Larue, Fanny / Picard, Ghislain / Arnaud, Laurent / et al: Snow albedo sensitivity to macroscopic surface roughness using a new ray-tracing model. 2020. Copernicus Publications.

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